使用X射线微量分析来确定复杂结构的化学成分的方法

摘要

一种用于使用微X射线荧光光谱法识别印刷线路组件中有害物质的方法，该印刷线路组件具有多个分立部件(图1)。使用微X射线荧光光谱法(μ－XRF)和/或X射线吸收精细结构(XAFS)光谱法作为检测分析仪，用于识别在电子设备中的有关材料。通过响应于参考数据库中的信息将设备或组件在X、Y和Z的方向上移动到探针下(130)，来确定在该组件上选定位置的元素组成(125)，以便分析所检验的设备或组件，该探针被设置在距用于分析的每个选定位置的最佳分析距离处(120)。然后，使每个选定位置处的所确定元素组成与参考数据库互相关，并且将所检测到的元素指定到该组件中的各种部件。

主权项

1.一种用于使用微X射线荧光光谱法识别印刷线路组件中有害物质的方法，该印刷线路组件具有多个分立部件，所述方法包括：a)通过响应于在参考数据库中的信息将探针移动到所述组件上，分析所述印刷线路组件，以确定所述印刷线路组件上选定位置处的元素组成，所述探针被设置在距用于分析的每个选定位置基本上最佳的分析距离处；和b)使所述选定位置处的所确定元素组成与所述参考数据库互相关，以将检测到的元素指定到所述印刷线路板组件上的各种部件。