发明名称 通用串行总线装置的测试系统及其方法
摘要 本发明提供一种通用串行总线装置的测试系统及其方法,特别涉及一种USB装置的测试系统,用以经由第一计算机系统对USB装置进行复制比对测试。测试系统包括逻辑分析仪及测试治具。逻辑分析仪用以侦测USB装置的存取状态,并于侦测到USB装置的存取操作发生错误时于驱动信号上产生脉冲。测试治具接收驱动信号并于接收到脉冲时控制通用输入输出信号的电平由高电平变为低电平以驱动第一计算机系统终止复制比对测试。本发明所述的通用串行总线装置的测试系统及其方法,具有可有效地驱动USB协议分析仪保留对应的传输信息的优点。
申请公布号 CN101059769A 申请公布日期 2007.10.24
申请号 CN200710111034.8 申请日期 2007.06.13
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 涂长利
分类号 G06F11/267(2006.01) 主分类号 G06F11/267(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇
主权项 1.一种通用串行总线装置的测试系统,用以经由一第一计算机系统对一USB装置进行复制比对测试,其特征在于,该测试系统包括:一逻辑分析仪,用以侦测该USB装置的存取操作,并于侦测到该USB装置的存取操作发生错误时于一驱动信号上产生一脉冲;以及一测试治具,接收该驱动信号并于接收到该脉冲时控制一通用输入输出信号的电平由高电平变为低电平,以驱动该第一计算机系统终止复制比对测试。
地址 中国台湾台北县