发明名称 PROBE TIP PLATING
摘要 A method of processing a probe element includes (a) providing a probe element comprising a first conductive material, and (b) coating only a tip portion of the probe element with a second conductive material.
申请公布号 KR20070083542(A) 申请公布日期 2007.08.24
申请号 KR20077005286 申请日期 2007.03.05
申请人 SV PROBE PTE LTD. 发明人 TUNABOYLU BAHADIR;MALANTONIO EDWARD L.;BEATSON DAVID T.;HMIEL ANDREW
分类号 G01R1/067 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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