发明名称 用于制造氮化镓基半导体垂直结构元件的雷射剥离方法
摘要 一种用于制造氮化镓基半导体垂直结构元件的雷射剥离方法,包含:(a)制备一试片单元;在一转换基板上形成一氮化镓基半导体层,及一支持基板,(b)邻近转换基板地设置一个具有镂空区的光罩,(c)将雷射光穿过镂空区照射试片单元,使半导体层具有对应镂空区的晶粒区,及位在晶粒区周围的分隔区,(d)加热,(e)将半导体层剥离该转换基板。藉由雷射光搭配光罩使用,使半导体层在剥离转换基板之同时,即于支持基板上形成间隔之晶粒区,应用于发光二极体或其他垂直结构元件上,可以省略后续微影、蚀刻等步骤,故确实简化制程步骤并节省时间。
申请公布号 TW200731554 申请公布日期 2007.08.16
申请号 TW095104392 申请日期 2006.02.09
申请人 国立成功大学 发明人 王水进;杨于铮;汪楷茗;陈学龙
分类号 H01L33/00(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 台南市东区大学路1号