| 发明名称 | 一种集成电路随机序列号产生的方法 | ||
| 摘要 | 集成电路生产制造过程中由于边缘效应，离子注入和表面态效应以及载流子迁移率的变化等不理想因素会造成的元器件的不匹配性，利用高增益放大电路检测元器件间的不匹配并转化为与之相对应的数字电平，由于元器件之间的这种不匹配性随机性很强，因此使用多个放大电路单元可以实现了多位随机序列号的产生。 | ||
| 申请公布号 | CN101009215A | 申请公布日期 | 2007.08.01 |
| 申请号 | CN200710048343.5 | 申请日期 | 2007.01.26 |
| 申请人 | 四川登巅微电子有限公司 | 发明人 | 邹铮贤;肖宁;朱国军 |
| 分类号 | H01L21/00(2006.01);H01L21/82(2006.01);G06F7/58(2006.01) | 主分类号 | H01L21/00(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种集成电路随机序列号产生的方法，其特征在于，该随机序列号由集成电路制造过程中产生；其产生的步骤如下：a、运用检测电路检测出集成电路制造过程中匹配半导体元器件之间产生的微小不匹配；b、将检测出的不匹配性转换成相应的电信号；c、运用放大器电路对该电信号进行放大；d、放大后的电信号经过信号处理后即输出一位随机数字信号；e、运用多个以上随机数字信号产生单元组成的电路，便产生多位随机数字信号，即随机序列号。 | ||
| 地址 | 620300四川省成都市高新区高新孵化园7号楼402 | ||