发明名称 用于制造在半导体元件内之电容器的方法
摘要 本发明提供一种在半导体元件内制造电容器之方法。该方法包含:在基板上形成绝缘层;使金属源填平绝缘层,以改变绝缘层的表面特性,改善金属基材料对绝缘层表面的附着性;在填平的绝缘层上形成包含金属基材料之储存节点;及在金属基材料之储存节点上,依序形成介电质层和板状电极。
申请公布号 TW200725871 申请公布日期 2007.07.01
申请号 TW095119505 申请日期 2006.06.02
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 廉胜振;吉德信;金珍赫;朴基善;宋翰相;卢载盛
分类号 H01L27/04(2006.01);H01L21/70(2006.01) 主分类号 H01L27/04(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;林荣琳
主权项
地址 韩国