测试序列之最佳化方法及设计工具

摘要

本发明揭示一种用于定义一测试序列以供测试复数个包括积体电路之电子装置的方法。定义一装置的参考群组(110)，其后该群组中之装置在考量下会接受所有可利用的测试(120)。针对每一测试，会收集测试结果，从其中撷取装置群组之测试的故障检测范围度量(130)。接着，针对每一测试计算出测试效益(140)，其系该故障检测范围度量与该测试的测试持续时间之间的比率。该测试序列系藉由以测试之测试效益为基础重复对该序列添加测试(160)，直到该测试序列之整个故障检测范围达到预定义的临界为止(170)而建立。因此，遂获得一在测试成本方面最佳化的测试序列。