发明名称 |
清洗硅表面的方法以及用此方法制造薄膜晶体管的方法 |
摘要 |
本发明提供一种清洗硅表面的方法,其包括以下步骤。首先,使用氧化剂溶液第一次清洗硅表面。接着,以HF蒸气或液体清洗硅表面,以氢气水或去离子水配合超音波(megasonic)清洗硅表面。最后,使用氧化剂溶液第二次清洗硅表面。本发明的清洗方法可应用于薄膜晶体管(TFT)的制作,所得TFT具有较高的电子迁移率。 |
申请公布号 |
CN1321755C |
申请公布日期 |
2007.06.20 |
申请号 |
CN03101727.4 |
申请日期 |
2003.01.21 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
彭佳添;孙铭伟 |
分类号 |
B08B3/08(2006.01);B08B7/00(2006.01);H01L21/306(2006.01) |
主分类号 |
B08B3/08(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
贾静环;宋莉 |
主权项 |
1.一种清洗硅表面的方法,其基本上由下列步骤组成:使用氧化剂溶液第一次清洗硅表面;然后以HF蒸气或液体清洗硅表面;然后以氢气水或去离子水配合超音波清洗硅表面;以及最后使用氧化剂溶液第二次清洗硅表面,用以钝化该硅表面的悬空键。 |
地址 |
台湾省新竹市 |