| 发明名称 | 实时生成闪存测试向量的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种实时生成闪存测试向量的方法，预先把对闪存擦除操作、读操作和写操作分别编写成擦写类库函数、读类库函数和写类库函数库函数，在测试中，通过调用这些库函数实时生成测试向量。本发明可明显缩短测试程序开发时间，提高测试程序的可靠性和测试开发效率。 | ||
| 申请公布号 | CN1982908A | 申请公布日期 | 2007.06.20 |
| 申请号 | CN200510111427.X | 申请日期 | 2005.12.13 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 谢晋春;武建宏 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);G01R31/00(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 1、一种实时生成闪存测试向量的方法，其特征是，预先把对闪存的操作编写成库函数，在测试中，通过调用所述库函数实时生成测试向量。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||