发明名称 | 用在栓塞表面区域之表面结构改良 | ||
摘要 | 一半导体元件中的一个包括有一栓塞表面之表面结构,可藉由移除材料以生成具有至少一栓塞表面区域(典型地为钨或铜栓塞区域)其包括有一凹陷区域的一第一平面化表面而改善。一材料系沈积于此第一平面化表面之上以及此凹陷区域之顶部内,以生成一材料层。此材料层接着被移除以生成一第二平坦化表面,而此材料则仍留在此凹陷区域之顶部内。为了形成一半导体相转换记忆元件,一相转换元素系形成于第二平面化表面之至少一栓塞区域(做为一第一电极)以及一第二电极之间。 | ||
申请公布号 | TW200723386 | 申请公布日期 | 2007.06.16 |
申请号 | TW095141952 | 申请日期 | 2006.11.13 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 陈士弘 |
分类号 | H01L21/304(2006.01) | 主分类号 | H01L21/304(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 李贵敏 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |