| 主权项 |
1.一种位址副取样装置,系包括: 一计数装置,用于产生N位元的二进位位址,其中N是 大于2的自然数;以及 一位址转换装置,用于对该N位元的二进位位址进 行副取样以输出一具有第一、第二和第三位元组 的副取样位址,其中该副取样位址的设置方式系从 MSB(最高位元)依第三、第一及第二位元组的顺序 配置,其中该第一位元组亦即由该副取样位址内对 应于被设定为「0」之跳过位址数目的位数组合, 该第二位元组包含对应于该二进位位址之各位元 的LSB(最低位元),而第三位元组包含的MSB系被设定 为从该二进位位址内之MSB减掉该第一位元组内之 位元数目得到的平移位址。 2.如申请专利范围第1项之位址副取样装置,又包括 一多工装置,其系用于一预定副取样模式,该副取 样模式系应用N位元二进位位址提供,其中该位址 转换装置依照该预定副取样模式其中之一施行该 副取样动作。 3.如申请专利范围第1项之位址副取样装置,其中该 预定副取样模式的数目为2N-1。 4.如申请专利范围第1项之位址副取样装置,其中该 跳过位址的数目和输出位址的数目都是偶数。 5.一种线扫描方式之影像感知器,系包括: 一第一计数装置,依与一预设资料时脉信号同步的 方式来产生X位元的一第一二进位位址,其中X是大 于2的自然数; 一第一位址转换装置,用于对该X位元的第一二进 位位址进行副取样以提供一具有第一、第二和第 三位元组的第一副取样位址; 一第二计数装置,依与一预设线时脉信号同步的方 式来产生Y位元的一第二二进位位址,其中Y是大于2 的自然数; 一第二位址转换装置,用于对该Y位元的第二二进 位位址进行副取样以输出一具有第一、第二和第 三位元组的第二副取样位址; 其中每一个第一和第二副取样位址的设置方式系 从MSB(最高位元)依序为第三、第一及第二位元组 的顺序配置,其中该第一位元组亦即由该副取样位 址对应于被设定为「0」之跳过位址数目的位数组 合,该第二位元组包含对应于该二进位位址之各位 元的LSB(最低位元),而第三位元组包含的MSB系被设 定为从该二进位位址内之MSB减掉该第一位元组内 之位元数目得到的平移位址。 6.如申请专利范围第5项之影像感知器,其中该第一 位址转换装置系用以产生一已副取样的行位址,而 该第二位址转换装置系用以产生一已副取样的列 位址。 7.如申请专利范围第6项之影像感知器,又包括: 一第一多工装置,用于选出能够由该X位元之第一 二进位位址输出的第一预定副取样模式的其中之 一;以及 一第二多工装置,用于选出能够由该Y位元之第二 二进位位址提供的第二预定副取样模式的其中之 一, 其中该第一和第二位址转换装置会分别根据该第 一预定副取样模式其中之一及该第二预定副取样 模式其中之一来执行该副取样作业。 8.如申请专利范围第7项之影像感知器,其中该第一 和第二副取样模式的数目分别为2X-1和2Y-1。 9.如申请专利范围第5项之影像感知器,其中该欲跳 过之位址的数目和欲输出之位址的数目都是偶数 。 10.如申请专利范围第5项之影像感知器,其中该预 设线时脉信号的时间周期系藉由以下而获得:将各 线之间的时间间隔,叠加到一画素配置装置之行宽 乘以该资料时脉信号计算出之数値上。 11.一种位址副取样方法,系包括下列步骤: 产生N位元的二进位位址,其中N是大于2的自然数; 以及 对该N位元的二进位位址进行副取样以输出一副取 样位址,其中该副取样位址的设置方式系从MSB(最 高位元)依第三、第一及第二位元组的顺序配置, 其中该第一位元组系由该副取样位址内对应于被 设定为「0」之欲跳过的位址数目之位数组合,该 第二位元组系包含对应于该二进位位址之各位元 的LSB(最低位元),而该第三位元组包含的MSB系被设 定为从该二进位位址内之MSB减掉该第一位元组内 之位元数目得到的平移位址。 12.一种用于一影像感知器之副取样方法,系包括下 列步骤: 依与一预设资料时脉信号同步的方式来产生X位元 的第一二进位位址,并依与一预设线时脉信号同步 的方式来产生Y位元的第二二进位位址,其中X和Y分 别都是大于2的自然数;以及 对该第一及第二二进位位址进行副取样以输出一 第一和第二副取样位址,其中每一个第一和第二副 取样位址的设置方式系从MSB(最高位元)依序为第 三、第一及第二位元组的顺序配置,其中该第一位 元组系由该副取样位址内对应于被设定为「0」之 欲跳过的位址数目之位数组合,该第二位元组系包 含对应于该二进位位址之各位元的LSB(最低位元), 而该第三位元组包含的MSB系被设定为从该二进位 位址内之MSB减掉该第一位元组内之位元数目得到 的平移位址。 13.如申请专利范围第12项之副取样方法,其中该第 一副取样位址指的是行位址,而该第二副取样位址 指的是列位址。 14.如申请专利范围第12项之副取样方法,其中该预 设线时脉信号的时间周期系藉由以下而获得:将各 线之间的时间间隔,叠加到一画素配置装置之行宽 乘以该资料时脉信号所计算出之数値上。 图式简单说明: 第1图系用以显示一种根据本发明实施例之位址副 取样装置的方块图示。 第2A到2E图代表的是用以显示一种根据本发明实施 例之副取样作业的方块图示。 第3A到3C图系用以显示根据本发明施行10-位元之副 取样作业结果的图表。 第4图系用以显示一种根据本发明另壹实施例之影 像感知器的方块图示。 |
