发明名称 使用与输出频道共用的测试垫的膜片式半导体封装及其方法、测试装置、以及使用与测试频道共用的半导体装置及其方法
摘要 所提供的是一种使用与输出频道共用的测试垫的薄膜型半导体封装及其方法、一种测试装置以及一种使用与测试频道共用的图案的半导体装置及其方法。此半导体装置包括薄膜型半导体封装与测试装置。此薄膜型半导体封装是藉由多个测试垫来输出测试讯号。测试装置使用此测试讯号来测试薄膜型半导体封装。测试装置中的印刷电路板包括多个共用图案,每个共用图案将多个测试频道中的至少两个测试频道连接到一个输入端,而测试频道将此输入端连接到测试接脚。如果使用这种薄膜型半导体封装、这种测试薄膜型半导体封装的方法、这种半导体装置及其测试装置、以及这种测试半导体装置中的薄膜型半导体封装的方法,就能够在不替换现有测试装置的情况下对薄膜型半导体封装进行测试。
申请公布号 TW200721347 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW095142762 申请日期 2006.11.20
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 许南重
分类号 H01L21/66(2006.01);H01L23/12(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国