发明名称 半导体架构及其形成方法和形成金氧半导体装置之方法
摘要 一种具有挖除主动区域之半导体架构以及制造半导体架构的方法。半导体架构包括第一隔离架构和第二隔离架构,而第一隔离架构和第二隔离架构之间具有一主动区域,第一和第二隔离架构具有小于90度之倾斜角之侧壁,藉由挖除主动区域以增加通道宽度以及装置的驱动电流。
申请公布号 TW200715558 申请公布日期 2007.04.16
申请号 TW095114679 申请日期 2006.04.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 黄健朝;杨富量
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号