发明名称 | 取样装置以及测试装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种取样装置,其具备脉波产生电路及取样电路,并且,脉波产生电路具有突返二极体以及该二极体的阳极侧及阴极侧的输入端子,取样电路具有:被测定讯号配线,用来输入被测定讯号;突返二极体的阳极侧及阴极侧的第1配线,传送由脉波产生电路所产生的脉波讯号;以及取样部,该取样部包含取样用第1二极体及取样用第2二极体,上述取样用第1二极体的阳极连接于阴极侧之第1配线侧且阴极连接于被测定讯号配线,上述取样用第2二极体的阳极连接于被测定讯号配线且阴极连接于阳极侧之第1配线侧,并且,突返二极体与取样用二极体形成于不同半导体层上。 | ||
申请公布号 | TW200711309 | 申请公布日期 | 2007.03.16 |
申请号 | TW095132533 | 申请日期 | 2006.09.04 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 佐藤诚也;今野猛;志波诚士;宫本博司 |
分类号 | H03K3/02(2006.01) | 主分类号 | H03K3/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |