发明名称 印刷焊锡检查装置
摘要 本发明作为一种印刷焊锡检查装置,其使用两道光扫描印刷基板,以提升扫描效率。另一方面,防止两道光之光学特性差异所造成之对于测量值的影响。横跨焊锡被印刷的印刷基板上的扫描物件范围,利用偏向器4,以相异的预定入射光接受光束A与光束B的两道光,并将其偏向到前述对象范围方向,将光射出以进行扫描。此时,利用可变手段1c,可以将光束A与光束B的偏光与功率调整成相同。
申请公布号 TWI274866 申请公布日期 2007.03.01
申请号 TW094100962 申请日期 2005.01.13
申请人 安立公司 发明人 益田纪彦;田下贵久;菅井雅也
分类号 G01N21/956(2006.01);H05K3/34(2006.01);G02B5/00(2006.01) 主分类号 G01N21/956(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种印刷焊锡检查装置,具备一投射部(3)与一受 光部(8),该投射部(3)对横跨被焊锡印刷的一印刷基 板的一预定的扫描对象范围,射出光并进行扫描, 该受光部(8)接受来自该印刷基板的反射光,该印刷 焊锡检查装置用以检查该焊锡的印刷状态,其特征 在于: 该投射部(3)包括: 一光产生部(1),出射M(多数)个光;以及 一偏向器(4),以不同的入射角接受该些M个光,使往 该对象范围偏向,依序扫描该印刷基板的该扫描对 象范围。 2.如申请专利范围第1项所述之印刷焊锡检查装置, 其中该偏向器为一多角镜,沿着该偏向器的周围具 有N(多数)角状镜面,利用旋转进行扫描,并且以每 360度/[NM]的不同入射角(),接受来自该光产生部 的该些光,并且以实质上每360度/[2NM]的旋转,依序 扫描该扫描对象范围。 3.如申请专利范围第2项所述之印刷焊锡检查装置, 更包括: 一副扫描部(104),藉由该偏向器每旋转大致360度/[2 NM](即/2),使该投射部与该印刷基板相对于与该 扫描方向垂直的方向进行移动,以进行副扫描;以 及 一形状再生部(105),该受光部根据利用该偏光器的 主扫描及利用该副扫描部的副扫描的时序而输出 的一受光量以及一受光位置,并基于根据该受光量 与该受光位置所输出的电气讯号,将该印刷基板上 的印刷焊锡的形状进行再生。 4.如申请专利范围第1、2或3项所述之印刷焊锡检 查装置,其中该光产生部所射出的该些M道光为相 同的偏光方向,且在该印刷基板的被扫描的面上, 设成有实质上相同的功率。 5.如申请专利范围第4项所述之印刷焊锡检查装置, 其中该些M道光为两道光,该光产生部更包括: 一个光源(1a),用以射出光; 一偏光分光部(1b),将来自该光源的光分光成由彼 此互相垂直的偏光方向所构成的两道分光; 一第一偏光板(1d),接受该两道分光的其中之一,并 设成与另一分光相同的偏光方向;以及 一第二偏光板(1c),设置在该光源与该偏光分光部 之间,在经过该偏向器而投射的该印刷基板的被扫 描面上,将该第一偏光板所输出的其中之一的分光 及另一分光的功率调整成实质上为相同。 6.如申请专利范围第4项所述之印刷焊锡检查装置, 其中该些M道光为两道光,该光产生部更包括: 一个光源(1a),用以射出光; 一偏光分光部(1b),将来自该光源的光分光成由彼 此互相垂直的偏光方向所构成的两道分光; 一第一偏光板(1d),接受该两道分光的其中之一,并 设成与另一分光相同的偏光方向;以及 一第三偏光板(1f),接受两道分光的另一道分光,该 些分光的其中之一,并且在经过该偏向器而投射的 该印刷基板的被扫描面上,该两道分光的功率调整 成实质上为相同。 7.如申请专利范围第1或2项所述之印刷焊锡检查装 置,更包括: 一形状再生部(105),从该受光部所输出的电气讯号, 将印刷焊锡进行再生;以及 一补正部(109),当以该偏向器依序投射该些M道光的 时候,为了防止对该些M道光的特性差异造成的受 光部的受光量的影响,预先记忆与用来投射的光相 对应的一补正用资料,并以该投射之光的该补正用 资料,对从该受光部输入到该形状再生部的电气讯 号进行补正。 8.如申请专利范围第1或2项所述之印刷焊锡检查装 置,更包括: 一形状再生部(105),以一预定的临界値,比较该受光 部输出的电气讯号并进行二値化,从二値化的资料 ,将印刷焊锡的形状进行再生;以及 一补正部(109),当以该偏向器依序投射该些M道光的 时候,为了防止对该些M道光的特性差异造成的受 光部的受光量的影响,预先记忆与用来投射的光相 对应的一补正用资料,并以该投射之光的该补正用 资料,对该临界値进行补正。 图式简单说明: 图1为实施例1的功能方块图。 图2是用来说明投光部的两道光束之光学特性的差 异性所造成对于检查装置之影响的说明图。 图3为实施例2的功能方块图。 图4为实施例2的光产生部的变化例示意图。 图5为实施例2的光产生部的变化例示意图。 图6为实施例2的光产生部的变化例示意图。 图7为说明实施例3的补正的说明图。 图8A为说明在实施例3的扫描光束的检测方法的说 明图。 图8B为说明在实施例3的扫描光束的检测方法的说 明图。 图9A为说明在实施例3中,识别光束之时序信号的产 生方法的说明图。 图9B为说明在实施例3中,识别光束之时序信号的另 一种产生方法的说明图。 图10为本发明图1之实施例的其他例的示意图,用以 说明一连串的动作。 图11为说明图10的两道光束的扫描并且说明两道光 的检测的说明图。 图12为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图13为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图14为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图15为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图16为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图17为用来说明图10的两道光束的扫描的说明图。 图18绘示传统技术的投光部的结构的立体图。 图19为说明利用图18的投光部的扫描的说明图。
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