| 发明名称 | 集成电路测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种集成电路测试装置，包括探针定位板(2)、待测集成电路限位板(3)和探针(7)，探针定位板(2)下面有和测试电路板(9)电连接导电转换装置(5)；各探针(7)的尾部穿越所述集成电路限位板(3)和探针定位板(2)与导电转换装置(5)电连接；探针定位板(2)和集成电路限位板(3)上有供所述探针(7)穿越的各通孔，各通孔之间的中心距与待测集成电路(10)各引脚中心之间的脚距相同，且所述脚距在0.4mm至0.95mm之间。本发明的技术效果在于：增加了导电转换装置，测试时探针不直接和测试电路板电连接，避免了测试电路板上的焊盘氧化，故测试电路板的导电性能好，测试精度高；能适应高密度、小间距的集成电路的测试需求等。 | ||
| 申请公布号 | CN1916643A | 申请公布日期 | 2007.02.21 |
| 申请号 | CN200510036732.7 | 申请日期 | 2005.08.17 |
| 申请人 | 段超毅 | 发明人 | 段超毅 |
| 分类号 | G01R1/073(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R1/073(2006.01) |
| 代理机构 | 深圳睿智专利事务所 | 代理人 | 陈鸿荫 |
| 主权项 | 1.一种集成电路测试装置，包括探针定位板(2)和探针(7)、待测集成电路(10)通过待测集成电路限位板(3)上的定位框或供探针(7)穿越的所述待测集成限位板(3)上的各通孔定位，其特征在于：所述探针定位板(2)下面有导电转换装置(5)，所述导电转换装置(5)和测试电路板(9)电连接；所述各探针(7)的尾部穿越所述集成电路限位板(3)和探针定位板(2)与所述导电转换装置(5)电连接；所述探针定位板(2)和集成电路限位板(3)上有供所述探针(7)穿越的各通孔，所述各通孔之间的中心距与所述待测集成电路(10)各引脚中心之间的脚距相同，且所述脚距在0.4mm至0.95mm之间。 | ||
| 地址 | 518101广东省深圳市宝安区世外桃园二区二栋805 | ||