| 发明名称 |
Immuntest - Verfahren und Vorrichtung, welche zum Nachweis von Zonenphänomenen dient unter Verwendung einer Fourier-Transformation. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE602004002902(T2) |
申请公布日期 |
2007.02.01 |
| 申请号 |
DE200460002902T |
申请日期 |
2004.07.07 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO. LTD. |
发明人 |
KAMEI, AKIHITO;KAWAMURA, TATSUROU |
| 分类号 |
G01N33/53;G01N21/49;G01N21/59;G01N33/531;G01N33/536;G01N33/543;G01N33/557 |
主分类号 |
G01N33/53 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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