| 发明名称 | 光学信息记录介质和用于该介质的银合金反射膜 | ||
| 摘要 | Ag合金反射膜含有作为组分的X1，并且具有位于距反射膜表面深2nm之内的区域中的富集层，其中组分X1以比X1在整个反射膜中的平均浓度更高的浓度富集在富集层内，其中X1是选自由下列元素组成的组中的至少一种合金元素：Bi、Si、Ge、Pb、Zn、Cd、Hg、Al、Ga、In、Tl、Sn、As和Sb。所述反射膜具有作为反射膜的稳定且优异的基本性质，比如初始反射率和耐久性，并且进一步满足诸如激光标记适应性之类的要求。光学信息记录介质包括所述反射膜，而且性能优异。 | ||
| 申请公布号 | CN1901055A | 申请公布日期 | 2007.01.24 |
| 申请号 | CN200610107508.7 | 申请日期 | 2006.07.20 |
| 申请人 | 株式会社神户制钢所 | 发明人 | 藤井秀夫;田内裕基;中井淳一 |
| 分类号 | G11B7/24(2006.01);G11B7/258(2006.01);C22C5/06(2006.01) | 主分类号 | G11B7/24(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 陈平 |
| 主权项 | 1.一种Ag合金反射膜，其包含作为组分的X1，其中所述Ag合金反射膜包括位于距反射膜表面深2nm之内的区域中的富集层，其中组分X1以比X1在整个反射膜中的平均浓度更高的浓度富集在富集层内，以及其中X1是选自由下列元素组成的组中的至少一种合金元素：Bi、Si、Ge、Pb、Zn、Cd、Hg、Al、Ga、In、Tl、Sn、As和Sb。 | ||
| 地址 | 日本兵库县 | ||