发明名称 |
RETRAIT DU BORD DE LA RONDELLE DE CENTRAGE PAR GRAVURE PAR IMMERSION |
摘要 |
<p>Un procédé permettant d'exécuter une gravure par immersion d'une plaquette de semi-conducteur est proposé. Le procédé comporte la fourniture d'une couche de résist sur une surface de la plaquette de semi-conducteur. Ensuite, un procédé de retrait du bord de la rondelle de centrage fait tourner par centrifugation la plaquette à une vitesse supérieure à 1 000 tours par minute et distribue du solvant par le biais d'une buse tandis que la plaquette tourne par centrifugation. Ensuite, la couche de résist est exposée au cours d'un système d'exposition de gravure par immersion.</p> |
申请公布号 |
FR2888401(A1) |
申请公布日期 |
2007.01.12 |
申请号 |
FR20060005776 |
申请日期 |
2006.06.27 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO.,LTD. |
发明人 |
CHANG CHING YU;KE CC;YU VINCENT |
分类号 |
H01L21/3105;G03F7/20 |
主分类号 |
H01L21/3105 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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