| 主权项 |
1.一种影像侦测器用测试装置,使影像侦测器的输 出入端子在测试头的接触部接触,藉由一边在上述 影像侦测器的受光面照射来自光源的光,一边自上 述测试头的接触部输出入电子信号至上述影像侦 测器,以进行上述影像侦测器的光学特性的测试, 且至少包括: 测试前侦测器收纳部,收纳测试前的上述影像侦测 器; 装载器用反转装置,使自上述测试前侦测器收纳部 被供给的影像侦测器反转; 接触臂,把持藉由上述装载器反转装置被反转的反 转状态的该影像侦测器使其被移动,使反转状态下 的该影像侦测器的输出入端子在上述测试头的接 触部以电性接触; 卸载器用反转装置,使测试完毕的上述影像侦测器 反转;以及 复数个测试完毕侦测器收纳部,收纳藉由上述卸载 器用反转装置被反转的测试完毕的上述影像侦测 器。 2.如申请专利范围第1项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述装载器用反转装置和上述卸载器用 反转装置中的任一个,可保持两个以上的上述影像 侦测器,而同时反转。 3.如申请专利范围第1项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述装载器用反转装置和上述卸载器用 反转装置中的任一个,至少包括可保持上述影像侦 测器的第一保持部以及使上述第一保持部回转的 回转机构。 4.如申请专利范围第3项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述第一保持部系具有可吸着上述影像 侦测器的吸着喷嘴。 5.如申请专利范围第4项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述第一保持部系以适合上述影像侦测 器的大小或形状的方式,且可和具有和该第一保持 部具有的吸着喷嘴不同的吸着喷嘴的其他第一保 持部交换。 6.如申请专利范围第3项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述回转机构系包括支持上述第一保持 部的小齿轮以及在上述小齿轮咬合的齿条齿轮,将 在上述齿条齿轮被供给的直动力变换为回转力,使 上述第一保持部回转。 7.如申请专利范围第3项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述装载器用反转装置和上述卸载器用 反转装置中的任一个,具有可保持反转后的上述影 像侦测器的第二保持部; 在上述第二保持部,可收容上述影像侦测器的凹部 被形成。 8.如申请专利范围第7项所述之影像侦测器用测试 装置,其中上述第二保持部系以适合上述影像侦测 器的大小或形状的方式,和在该第二保持部被形成 的凹部不同的凹部被形成的其他第二保持部可交 换。 9.如申请专利范围第1至8项中任一项所述之影像侦 测器用测试装置,更包括可拍摄藉由上述装载器用 反转装置被反转后且被供给至上述测试头之前的 上述影像侦测器的背面的拍摄装置。 10.如申请专利范围第9项所述之影像侦测器用测试 装置,更包括基于藉由上述拍摄装置拍摄所得到的 影像情报,判断自上述光源照射的光的照射样式以 及自上述测试头的接触部输入的电子信号的输入 样式的判断装置。 11.如申请专利范围第9项所述之影像侦测器用测试 装置,更包括基于藉由上述拍摄装置拍摄而得的品 种情报以及测试结果的分类情报,自上述复数个测 试完的侦测器收纳部中应搬出上述影像侦测器以 选择测试完毕侦测器收纳部的选择装置。 12.一种影像侦测器的测试方法,使影像侦测器的输 出入端子在测试头的接触部接触,藉由一边在上述 影像侦测器的受光面照射来自光源的光,一边自上 述测试头的接触部输出入电子信号至上述影像侦 测器以进行上述影像侦测器的光学特性的测试,且 至少包括: 使测试前的上述影像侦测器被反转的第一反转步 骤; 使反转状态的该影像侦测器在上述测试头的接触 部以电性接触,自光源照射光在该影像侦测器的受 光面,以进行该影像侦测器的光学特性的测试的测 试步骤;以及 使测试完毕的反转状态的该上述影像侦测器反转 的第二反转步骤。 13.如申请专利范围第12项所述之影像侦测器的测 试方法,其中在上述第一反转步骤和上述第二反转 步骤中,可保持两个以上的上述影像侦测器,而同 时反转。 14.如申请专利范围第12或13项所述之影像侦测器的 测试方法,更包括在上述测试步骤前拍摄上述影像 侦测器以取得品种情报的拍摄步骤。 15.如申请专利范围第14项所述之影像侦测器的测 试方法,更包括基于在上述拍摄步骤拍摄所得的品 种情报,判断自上述光源照射的光的照射样式以及 自上述测试头的接触部输入的电子信号的输入样 式的判断步骤; 在上述测试步骤中,除了依据上述照射样式在上述 影像侦测器的受光面照射光,同时依据上述输入样 式自上述测试头的接触部在上述影像侦测器输出 入电子信号。 16.如申请专利范围第14项所述之影像侦测器的测 试方法,其中基于在上述拍摄步骤拍摄而得的品种 情报以及测试结果的分类情报,分类已测试完毕的 上述影像侦测器。 17.一种电子零件测试装置,使被测试电子零件的输 出入端子在测试头的接触部以电性接触,藉由自上 述测试头的接触部输出入电子信号至上述被测试 电子零件,而进行上述被测试电子零件的测试,且 至少包括: 测试前电子零件收纳部,收纳测试前的被测试电子 零件; 装载器用反转装置,使自上述测试前电子零件收纳 部被供给的上述被测试电子零件反转; 接触臂,把持藉由上述装载器反转装置被反转的反 转状态的该被测试电子零件而使其移动,使反转状 态的该被测试电子零件的输出入端子在测试头的 接触部以电力接触; 卸载器用反转装置,使测试完毕的上述被测试电子 零件反转至起始状态;以及 复数个测试完毕电子零件收纳部,收纳藉由上述卸 载器用反转装置被反转的测试完毕的上述被测试 电子零件。 图式简单说明: 第1A图系为表示成为有关本发明的第一实施例的 影像侦测器用测试装置的测试对象的影像侦测器 的平面图; 第1B图系为沿第1A图的I-I线的影像侦测器的剖面图 ; 第2图系为表示有关本发明的实施例的影像侦测器 用测试装置的概略平面图; 第3图系为沿第2图的II-II线的影像侦测器用测试装 置的剖面图; 第4图系为表示有关本发明的实施例的影像侦测器 用测试装置的装载器用反转装置的概略斜视图; 第5A图系为在第4图中所示的装载器用反转装置的 平面图; 第5B图系为在第4图中所示的装载器用反转装置的 侧面图; 第6A图系为用以说明在第4图中所示的装载器用反 转装置的动作的侧面模式图,表示反转前的状态; 第6B图系为用以说明在第4图中所示的装载器用反 转装置的动作的侧面模式图,表示反转后的状态; 第7图系为表示在有关本发明的实施例的影像侦测 器用测试装置中,识别影像侦测器的品种的状态的 图式; 第8图系为表示在有关本发明的实施例的影像侦测 器用测试装置中,用以识别影像侦测器的品种的系 统构成的方块图; 第9图系为有关本发明的实施例的影像侦测器用测 试装置的测试部的概略剖面图; 第10A图系为表示输出入端子对于受光面自侧方导 出的型式的影像侦测器的剖面图;以及 第10B图系为表示输出入端子自和受光面的相反面 导出的型式的影像侦测器的剖面图。 |
