Verfahren und Vorrichtung zum optischen Messen einer Probe

摘要

Zum optischen Messen einer Probe wird ein elektromagnetisches Signal (2) wiederholt vorübergehend auf die Probe gerichtet, um eine Substanz in der Probe von einem ersten Zustand (1) in einen zweiten elektronischen Zustand (3) zu überführen, wobei zumindest ein Teil der Substanz aus dem ersten Zustand (1) oder dem zweiten Zustand (3) heraus Photonen aussendet, die zum optischen Messen der Probe verwendet werden. Das Signal (2) wird dabei mit einem zeitlichen Wiederholungsabstand auf dieselben Bereiche der Probe gerichtet. Dieser Wiederholungsabstand und eine damit einhergehende Änderung bei einer Ausbeute von Photonen von der Substanz werden beobachtet, um den Wiederholungsabstand in Bezug auf die Ausbeute an Photonen zu optimieren.