发明名称 TESTING THE FUNCTIONAL BLOCKS IN A SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP0969289(B1) 申请公布日期 2006.12.13
申请号 EP19980909824 申请日期 1998.03.20
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 OHTA, MITSUYASU;TAKEOKA, SADAMI;HIRAOKA, TOSHIHIRO
分类号 G01R31/3185;G01R31/3187;G06F11/22;H01L21/822;H01L27/02;H01L27/04 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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