发明名称 用于测试影像感测晶片之探针卡
摘要 一种用于测试影像感测晶片之探针卡,包含有一电路板、一导引机构,以及多数探针;电路板具有一第一表面、一第二表面,以及一开口,导引机构系设于电路板之第二表面,各探针一端系电性连接电路板,且位于电路板邻近开口之位置,而另一端则穿设导引机构,且朝导引机构之外侧延伸;藉此,本发明利用电路板之开口即可供测试用之光线直接穿射,使探针卡可用于测试影像感测晶片。
申请公布号 TWI267642 申请公布日期 2006.12.01
申请号 TW094126086 申请日期 2005.08.01
申请人 采钰科技股份有限公司 发明人 卢笙丰
分类号 G01R1/067(2006.01);H01L27/148(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 代理人 刘緖伦 台中市南屯区永春东一路549号3楼
主权项 1.一种探针卡,包含有: 一电路板,该电路板具有一第一表面、一第二表面 ,以及一贯通于该第一表面与该第二表面之开口; 一导引机构,该导引机构具有多数穿孔,该导引机 构系设于该电路板之第二表面;以及 多数探针,各该探针系以导电材质制成,各该探针 一端系电性连接该电路板,且位于该电路板邻近该 开口之位置,而另一端则穿设该导引机构之穿孔, 且朝该导引机构之外侧延伸。 2.依据申请专利范围第1项所述之探针卡,其中该等 探针系呈对称状地分设于该开口二侧。 3.依据申请专利范围第1项所述之探针卡,其中各该 探针具有一体成形之一直立段以及一弹性段;该直 立段设于该电路板,使该弹性段朝该导引机构之方 向延伸。 4.依据申请专利范围第3项所述之探针卡,其中各该 探针之弹性段系呈弯曲状地一体成形于该直立段 一端,且该等探针之摆置方向系将各该弹性段以该 电路板之开口轴向为中心,进而呈对称状地分设于 该开口二侧,且各该弹性段朝远离于该开口之方向 弯折。 5.依据申请专利范围第3项所述之探针卡,其中各该 探针之弹性段系呈弯曲状地一体成形于该直立段 一端,且该等探针之摆置方向系将各该弹性段以该 电路板之开口轴向为中心,进而呈对称状地分设于 该开口二侧,且各该弹性段朝靠近于该开口之方向 弯折。 6.依据申请专利范围第1项所述之探针卡,其中该电 路板之第一表面另设有一补强环,该补强环同轴于 该电路板之开口。 7.依据申请专利范围第1项所述之探针卡,其中该导 引机构具有相互堆叠之一上框体以及一下框体;该 等穿孔系设于该上框体与该下框体,该上框体设于 该电路板之第二表面,且位置对应于该开口之位置 。 图式简单说明: 第一图系本发明第一较佳实施例之剖面示意图; 第二图系本发明第一较佳实施例之应用示意图;以 及 第三图系本发明第二较佳实施例之剖面示意图。
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