发明名称 纳米晶立方氮化硼薄膜的制备方法
摘要 本发明公开的纳米晶立方氮化硼薄膜的制备方法,步骤如下:1)把衬底表面清洗干净放到气相生长装置的反应室,反应室真空度至少抽到10<SUP>-3</SUP> Pa;2)向反应室输入保护气体,加热衬底并控制其温度在300-1100℃,调节反应室压强到0.1-10Pa,在反应室中产生等离子体;3)控制衬底偏压在0-250V,然后依次向反应室输入氮源,氯元素源和硼源,进行薄膜生长。本发明工艺、设备简单,原料易得,所制备的纳米晶立方氮化硼薄膜纯度高、残留压应力低,晶粒尺度小于50纳米,表面粗糙度低、硬度高,适用于制备加工铁基合金的刀具和磨具等,也可以用在光学元件的保护膜,高温电子器件等领域。
申请公布号 CN1850589A 申请公布日期 2006.10.25
申请号 CN200610050827.9 申请日期 2006.05.19
申请人 浙江大学 发明人 杨杭生
分类号 C01B21/064(2006.01) 主分类号 C01B21/064(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 韩介梅
主权项 1.纳米晶立方氮化硼薄膜的制备方法,其特征是包括以下步骤:1)把衬底表面清洗干净后放入到气相生长装置的反应室,反应室的真空度至少抽到10-3Pa;2)向反应室输入保护气体,加热衬底并控制其温度在300-1100℃范围内,调节反应室压强到0.1-10Pa,在反应室中产生等离子体;3)控制衬底偏压在0--250V范围内,然后依次向反应室输入氮源,氯元素源和硼源,进行薄膜生长,控制氮源流量在0.2-10sccm,氯元素源流量在1-10sccm,硼源流量在0.2-12sccm。
地址 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号