Method and IC for detecting variation of capacitance,申请号KR20040070072-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Method and IC for detecting variation of capacitance
摘要
申请公布号	KR100632864(B1)	申请公布日期	2006.10.13
申请号	KR20040070072	申请日期	2004.09.02
申请人		发明人
分类号	G01R27/26	主分类号	G01R27/26
代理机构		代理人
主权项
地址

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