发明名称 形成共平面晶圆级晶片封装之方法
摘要 提供一种经济的方法来形成一种共平面的多晶片之晶圆级封装。部分晶圆接合及部分晶圆切割技术用于建立晶片及容置区。之后,将完成的晶片固定于一载体基材中对应的容置区内,且于完成的晶片之顶部平坦表面上,形成晶片之间的全域内连接。本发明提供的方法促进整合不同制程步骤及材料制造的晶片,不需要使用平坦化制程,如化学机械研磨,来平坦化晶片的顶表面。由于晶片之间精确地对准,且所有晶片朝上固定,使得这个模组已可进行全域接线,减少将倒置晶片翻面的需求。
申请公布号 TW200633081 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW094140468 申请日期 2005.11.17
申请人 万国商业机器公司 发明人 洛伊德G 布瑞尔;陈厚;许履尘;渥夫刚 萨特
分类号 H01L21/48;H01L21/50 主分类号 H01L21/48
代理机构 代理人 蔡玉玲
主权项
地址 美国