测定方法及测定系统

摘要

一种测定方法及测定系统，用于集成电路中测定嵌入式存储器宏模组的数据存取时间。单一外部测试信号输入至嵌入式存储器宏模组以致能数据输入，并获取数据输出。单一外部测试信号的脉冲宽度以递增方式增加，直到获得数据输出的闩锁。接着，可以获得数据存取时间，且其实质上等于增加后的脉冲宽度的时间间隔。本发明排除了在现有设计上任何时序偏移的问题。由于本发明只需要较少的测试电路，其实现设计较简单，且精确地测量也变得简单很多。

主权项

1.一种测定方法，用以测定一嵌入式存储器宏模组的一数据存取时间，其特征在于，该测定方法包括：提供一单一外部测试信号至该嵌入式存储器宏模组，以根据一预设输入而获得来自该嵌入式存储器宏模组的一输出；在一或多个测试周期内，以递增方式增加该单一外部测试信号的一脉冲宽度，直到获得该输出；以及获得该嵌入式存储器宏模组的该数据存取时间，其中，该数据存取时间等于增加后的该脉冲宽度的一时间间隔。