发明名称 |
用于制作隔离壁的曝光方法 |
摘要 |
一种用于制作隔离壁的曝光方法,是于一基板表面涂布正型光阻以形成一光阻膜,再于光阻膜上方设置一光罩,接着,以紫外线做为曝光射线,且紫外线分别以与光罩表面夹一预定角度的方式,先后进行第一次曝光与第二次暴光,以便于以后的显影处理后,可于基板上形成倒梯形的隔离壁。 |
申请公布号 |
CN1821880A |
申请公布日期 |
2006.08.23 |
申请号 |
CN200510008087.8 |
申请日期 |
2005.02.16 |
申请人 |
胜华科技股份有限公司 |
发明人 |
郭建忠 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
1.一种用于制作隔离壁的曝光方法,其特征在于,包含下列步骤:涂布一正型光阻于一基板表面;于该正型光阻上方设置一光罩,该光罩具有一可透光区与一不可透光区;使一第一射线以与该光罩表面夹一θ1角度的方式照射该光罩,该第一射线经过该可透光区并照射于该正型光阻;使一第二射线以与该光罩表面夹一θ2角度的方式照射该光罩,该第二射线经过该可透光区并照射于该正型光阻。 |
地址 |
台湾省台中县 |