发明名称 涡街质量流量测量方法
摘要 本发明公开了一种涡街质量流量测量方法。在涡街流量计的涡街发生体的上游1/2D~D处开一取压孔,在涡街发生体的下游1/2D内开另一取压孔,用差压传感器测量涡街发生体上、下游的差压,输出的差压信号分两路,一路取差压的平均值,得到压力降Δ<SUP>P</SUP>,另一路测量差压信号的波动频率f,两者相除后,再乘上相关的仪表系数,可直接得到质量流量。本发明是对质量流量的一种直接测量,结构简单,无运动件,输出信号仅与流体质量流量有关,而且仪表系数不受流体的温度、压力、成分、粘度和密度的影响,具有测量准确度高、应用范围广、使用寿命长等特点,可用于气体、液体和蒸汽的质量流量测量。
申请公布号 CN1268901C 申请公布日期 2006.08.09
申请号 CN200410025765.7 申请日期 2004.06.29
申请人 浙江大学 发明人 张宏建;黄咏梅;孙志强
分类号 G01F1/90(2006.01) 主分类号 G01F1/90(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 张法高
主权项 1、一种涡街质量流量测量方法,其特征在于:在涡街流量计的涡街发生体的上游<img file="C2004100257650002C1.GIF" wi="172" he="103" />处开一取压孔,在涡街发生体的下游<img file="C2004100257650002C2.GIF" wi="78" he="104" />内开另一取压孔,用差压传感器测量涡街发生体上、下游的差压,输出的差压信号分两路,一路取差压的平均值,得到压力降ΔP,另一路测量差压信号的波动频率f,两者相除后,再乘上相关的仪表系数,可直接得到质量流量。
地址 310027浙江省杭州市浙大路38号