发明名称 TFT SUBSTRATE AND TESTING METHOD OF THE SAME
摘要
申请公布号 KR20060082517(A) 申请公布日期 2006.07.19
申请号 KR20050002897 申请日期 2005.01.12
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 AHN, BYEONG JAE;LEE, BONG JUN;KANG, SHIN TACK;PARK, HYEONG JUN
分类号 G02F1/13 主分类号 G02F1/13
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利