发明名称 |
信息存储介质、替换缺陷管理信息的方法及装置 |
摘要 |
本发明提供了存储缺陷管理信息的信息存储介质、替换缺陷管理信息的方法以及替换缺陷管理信息的装置。多个缺陷管理区(DMA设置组1到N)被以环形形式以这样的方式使用,使得DMA的缺陷管理信息替换并被记录在下一个备用区中,同时DMA被假定为仍旧可被完全重写(例如,当前使用的DMA设置#1-1到#4-1被替换为下一个DMA设置#1-2到#4-2),并且当缺陷管理信息直到最后备用区(DMA设置#1-N到#4-N)的转换结束时,过程再次返回到第一缺陷管理区。 |
申请公布号 |
CN1797583A |
申请公布日期 |
2006.07.05 |
申请号 |
CN200510103952.7 |
申请日期 |
2005.09.16 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
森尾美菜子;立泽之康;兼重敏彦;宇野徹;三原直人;森野浩明 |
分类号 |
G11B20/10(2006.01);G11B20/12(2006.01);G11B20/18(2006.01);G11B7/00(2006.01) |
主分类号 |
G11B20/10(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
李镇江 |
主权项 |
1.一种信息存储介质,其特征在于包括:可重写区,该可重写区包括用于存储用户数据的用户区,以及用于存储与可重写区中的缺陷区相关联的缺陷管理信息的缺陷管理区;所述缺陷管理区包括多个替换区;存储在正被替换的多个替换区的一个中的缺陷管理信息的至少一部分在该一个替换区变为不可用之前被记录在多个替换区的另一个中;并且其中,替换区之间的至少一个记录重复使用先前的替换区。 |
地址 |
日本东京都 |