发明名称 制作双镶嵌结构以及清除其残余聚合物的方法
摘要 本发明提供一种双镶嵌结构之制作方法,其系在蚀刻双镶嵌结构之部分介层洞后,先去除定义该介层洞之光阻层,再继续蚀刻介层洞至暴露出下层导电层,随即于同一反应室中进行一乾式清洗制程,以清除在蚀刻时产生之残余聚合物。
申请公布号 TW200623259 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW093141206 申请日期 2004.12.29
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 王镇和
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号