发明名称 窗型探针、电浆监控装置、及电浆处理装置
摘要 本发明是有关窗型探针,电浆监控装置,及电浆处理装置,其目的在直接且简便地检测由于施加高频或高压而产生之电浆状态,其构造至少设有在与电浆相对之面之至少一部分设有开口部之导电支撑构件5,以及在设置于上述导电支撑构件5之开口部之单侧表面具有探针电极2之电介质构件1。
申请公布号 TWI256278 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW092104091 申请日期 2003.02.26
申请人 独立行政法人科学技术振兴机构 发明人 八三夫
分类号 H05H1/00 主分类号 H05H1/00
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种窗型探针,其特征为至少具有在与电浆相对 之面之至少一部分设有开口部之导电性支撑构件, 以及在设置于上述导电性支撑构件之开口部之单 侧表面具有探针电极之电介质构件,藉由上述探针 电极来检测上述电介质构件所感应之壁电位之变 动。 2.如申请专利范围第1项之窗型探针,其中上述探针 电极连接有阻抗匹配手段。 3.如申请专利范围第1项之窗型探针,其中上述电介 质构件是光学上透明的玻璃所形成。 4.如申请专利范围第3项之窗型探针,其中上述探针 电极是光学上透明的导电性物质所形成。 5.如申请专利范围第1项之窗型探针,其中设置于上 述导电性支撑构件之开口部具有观测窗的功能。 6.一种电浆监控装置,是使用第1项所记载之窗型探 针,其特征为在上述窗型探针之输出端具有计量电 压波形之电压波形计测部。 7.如申请专利范围第6项之电浆监控装置,其中具备 处理监控机构,用于检测由上述电压波形计测部所 检测出来的电压波形的周期性波形之变化之不和 谐量以检测电浆之稳定性。 8.如申请专利范围第6项之电浆监控装置,其中具备 异常放电监控机构,其系依据由上述电压波形计测 部所检测之电压波形之变化检测电浆的异常放电 。 9.一种电浆处理装置,其特征为具备第6项所记载之 电浆监控装置。 10.如申请专利范围第9项之电浆处理装置,其中设 有上述开口部之导电性支撑构件是构成反应容器 的观测窗之凸缘部,上述电介质构件是密封凸缘部 之透明玻璃板。 图式简单说明: 图1为本发明的构造原理之说明图。 图2为本发明的第1实施形态之附有窗型探针之电 浆处理装置之概略构造图。 图3为使用于本发明之第1实施形态之窗型探针之 概略构造图。 图4为在RF放电时窗型探针之检测波形之说明图。 图5为在RF放电下输入电力变动时之窗型探针的检 测波形之说明图。 图6为在RF放电下由于装置异常而立刻切断RF电源 时之窗型探针的检测波形之说明图。 图7为利用本发明的第1实施形态之窗型探针处理 检测波形之方法之说明图。 图8为本发明的第2实施形态之附有异常放电监控 装置之电浆处理装置之概略构造图。 图9为本发明的第2实施形态中之DC放电中异常放电 时之窗型探针的检测波形之说明图。 图10为本发明的第2实施形态中之RF放电之异常放 电时之窗型探针的检测波形之说明图。 图11为本发明的第3实施形态之附有异常放电监控 装置之电浆处理装置的概略构造图。 图12为本发明的第3实施形态中异常放电检测方法 之说明图。 图13为本发明的第4实施形态之窗型探针之概略构 造图。
地址 日本