发明名称 薄膜半导体装置之制造方法及薄膜半导体装置
摘要 本发明之目的在于提供一种薄膜电晶体之制造方法及薄膜电晶体,其即使于进行水蒸气退火之半导体薄膜处理之情形时,亦可不取决于导电型与否而确保临限值电压。于基板31上形成TFT40、43,并以覆盖该等之状态形成层间绝缘膜44,该层间绝缘膜至少于构成最下层之膜中未含有羟基。其后,藉由于水分环境中进行热处理而于构成TFT40、43之半导体薄膜34之悬键,使氧或氢键结,并实现层间绝缘膜44之精细化。层间绝缘膜44含有例如氮化矽。
申请公布号 TW200618305 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW094126431 申请日期 2005.08.03
申请人 新力股份有限公司 发明人 国井正文
分类号 H01L29/786;H01L21/336;H01L21/20;H01L21/316 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本