| 发明名称 | 测量物体形状的方法和装置 | ||
| 摘要 | 按照本发明的一个方面，提供测量物体(12)形状的系统(10)。所述系统包括投影系统(14)，用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体(12)上。所述系统还包括图像处理系统(26)，用于捕获由物体(12)所调制的干涉条纹图的图像(20)。图像处理系统(26)还可用于识别干涉条纹图的图像中的参考标记，根据参考标记来构建物体的形状。 | ||
| 申请公布号 | CN1766522A | 申请公布日期 | 2006.05.03 |
| 申请号 | CN200510108755.4 | 申请日期 | 2005.09.30 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | Q·胡;K·G·哈丁 |
| 分类号 | G01B11/25(2006.01) | 主分类号 | G01B11/25(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;梁永 |
| 主权项 | 1.一种三维形状测量系统(10)，所述系统包括：投影系统(14)，用以将具有参考标记的干涉条纹图(18)投影到物体(12)上；图像处理系统(26)，用以捕获由所述三维物体(12)调制的所述干涉条纹图(18)的图像，其中所述图像处理系统(26)可以用于识别由所述三维物体(12)调制的所述干涉条纹图(18)的所述图像中的所述参考标记，并利用所述参考标记作为参考点来建立坐标系，以重构所述三维物体(12)的形状。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||