发明名称 |
使用于低驱动电压的铁电电容制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种使用于低驱动电压的铁电电容制造方法。此铁电电容的工艺首先在下电极上形成一层镍-镧氧化物(LaNiO<SUB>3</SUB>,LNO)层做为一层缓冲层,接着于其上使用溅射沉积(sputter deposition)的方法生长一层由钛酸铅锆(Pb(Zr<SUB>1-x</SUB>Ti<SUB>x</SUB>)O<SUB>3</SUB>,PZT)与铂(Pt)共同组成的铁电层,最后在铁电层上生长一层上电极。 |
申请公布号 |
CN1251322C |
申请公布日期 |
2006.04.12 |
申请号 |
CN02155770.5 |
申请日期 |
2002.12.06 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
曾院介;王昭雄;吴泰伯 |
分类号 |
H01L21/70(2006.01);H01L27/10(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/70(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈红;徐金国 |
主权项 |
1、一种可使用于低驱动电压下的铁电电容制造方法,该方法至少包括:形成一下电极;形成一镍-镧氧化物缓冲层于该下电极上;形成一由钛酸铅锆与铂共同组成的铁电层于该缓冲层之上;执行一退火工艺,结晶化该钛酸铅锆与铂共同组成的铁电层成为一结晶层;以及形成一上电极于该结晶层上。 |
地址 |
中国台湾 |