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发明名称
半导体元件及其制造方法
摘要
一种半导体元件,其中此半导体元件提供了一种闸极结构。此闸极结构包括导电部分以及高介电常数介电材料层,其中高介电常数介电材料层形成于导电部分下方且沿着导电部分之侧壁。除高介电常数介电材料层以外,亦可使用额外之闸极介电材料层,例如闸极氧化物。制造此闸极结构的方法包括形成开口于有机材料层中,再形成高介电常数介电材料层以及导电材料层于开口中与有机材料层上,接着利用化学机械研磨从闸极区以外之区域移除高介电常数介电材料层与导电材料层。
申请公布号
TW200611306
申请公布日期
2006.04.01
申请号
TW094131207
申请日期
2005.09.09
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
徐祖望;谢志宏;姜儒健
分类号
H01L21/00
主分类号
H01L21/00
代理机构
代理人
蔡坤财
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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