发明名称 使用T型图案来形成较小接触洞的方法
摘要 本发明系揭露一种使用T型图案来形成较小接触洞的方法,其系于一半导体基底上形成一氧化层、一硬罩幕层,及一化学增强型光阻层,利用一含氨的气氛使化学增强型光阻顶端的氢离子被氨离子捕捉,而使得化学增强型光阻层于图案化后,呈现T型图案,进而使对氧化层进行接触洞蚀刻时,能得到一尺寸较知制程小的接触洞。
申请公布号 TW200611313 申请公布日期 2006.04.01
申请号 TW093128184 申请日期 2004.09.17
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 GRACE SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CORPORATION 中国 发明人 傅国贵;周孟兴
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 林火泉
主权项
地址 中国