发明名称 光罩修正方法
摘要 一种光罩修正方法,系用以修正光罩中不正确的遮光缺陷,待修补之光罩包含透光基材、光罩图案与透光区,光罩图案与透光区形成于透光基材表面,且透光区内具有遮光缺陷,其修正流程系于透光基材表面涂布保护层,以覆盖光罩图案与透光区,再以能量束或微探针等方式去除对应遮光缺陷处的保护层,露出遮光缺陷表面,最后,进行蚀刻程序,去除未被保护层覆盖之遮光缺陷。
申请公布号 TW200609668 申请公布日期 2006.03.16
申请号 TW093133860 申请日期 2004.11.05
申请人 中华凸版电子股份有限公司 发明人 刘觐铭;李嘉政;王櫂烜;黄志忠;海野浩昌
分类号 G03F7/00 主分类号 G03F7/00
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 桃园县八德市和平路1127之3号