发明名称 | 光罩修正方法 | ||
摘要 | 一种光罩修正方法,系用以修正光罩中不正确的遮光缺陷,待修补之光罩包含透光基材、光罩图案与透光区,光罩图案与透光区形成于透光基材表面,且透光区内具有遮光缺陷,其修正流程系于透光基材表面涂布保护层,以覆盖光罩图案与透光区,再以能量束或微探针等方式去除对应遮光缺陷处的保护层,露出遮光缺陷表面,最后,进行蚀刻程序,去除未被保护层覆盖之遮光缺陷。 | ||
申请公布号 | TW200609668 | 申请公布日期 | 2006.03.16 |
申请号 | TW093133860 | 申请日期 | 2004.11.05 |
申请人 | 中华凸版电子股份有限公司 | 发明人 | 刘觐铭;李嘉政;王櫂烜;黄志忠;海野浩昌 |
分类号 | G03F7/00 | 主分类号 | G03F7/00 |
代理机构 | 代理人 | 许世正 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县八德市和平路1127之3号 |