发明名称 半导体热处理用反射板及其制造方法
摘要 本发明之目的在于,提供藉由抑制异物的黏附、反应气体的产生,以防止破裂、变形的半导体热处理用反射板。本发明之半导体热处理用反射板1,其系在圆板状或是环状的光透过性材料组成的板状体3内,密封配置着无机材料组成的板状体2者,其中,与上述光透过性材料组成的板状体相接无机材料组成的板状体的至少一面2a的表面粗糙度为Ra0.1~10.0μm,且于该面形成沟2c。
申请公布号 TWI251278 申请公布日期 2006.03.11
申请号 TW092106916 申请日期 2003.03.27
申请人 东芝陶瓷股份有限公司;东京电子股份有限公司 发明人 贯和彦;本间浩幸;斋藤纪彦;横山秀幸;斋藤孝规;中尾贤
分类号 H01L21/324 主分类号 H01L21/324
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种半导体热处理用反射板,系在圆板状或是环 状的光透过性材料组成的板状体内,密封配置着无 机材料组成的板状体者,其特征为: 与上述光透过性材料组成的板状体相接的无机材 料组成的板状体的至少一面的表面粗糙度为Ra0.1~ 10.0m,且于该面形成沟。 2.如申请专利范围第1项之半导体热处理用反射板, 其中,上述光透过性材料组成的板状体及上述无机 材料组成的板状体均为环状; 而形成于无机材料组成的板状体的沟,为直线状且 为从内周端连续于外周端的沟。 3.如申请专利范围第1项之半导体热处理用反射板, 其中,上述光透过性材料组成的板状体及上述无机 材料组成的板状体均为圆板状; 而形成于无机材料组成的板状体的沟,为直线状且 为从一外周端连续于与该外周端对向的另一外周 端的沟。 4.如申请专利范围第3项之半导体热处理用反射板, 其中,形成于上述无机材料组成的板状体的沟,为 通过该板状体的中心的沟。 5.如申请专利范围第1至4项中任一项之半导体热处 理用反射板,其中,形成于上述无机材料组成的板 状体的沟,有一至多个形成为以该板状体的同心圆 状。 6.如申请专利范围第5项之半导体热处理用反射板, 其中,藉由形成于上述无机材料组成的板状体的沟 ,将该板状体的表面区划为大致相等。 7.如申请专利范围第6项之半导体热处理用反射板, 其中,密封配置着上述无机材料组成的板状体的上 述光透过性材料组成的板状体的内部,系减压为200 torr以下。 8.如申请专利范围第1至4项中任一项之半导体热处 理用反射板,其中,在形成于上述无机材料组成的 板状体的沟的交叉位置,设置贯穿于上述板状体的 板厚方向的孔。 9.如申请专利范围第6项之半导体热处理用反射板, 其中,在形成于上述无机材料组成的板状体的沟的 交叉位置,设置贯穿于上述板状体的板厚方向的孔 。 10.如申请专利范围第8项之半导体热处理用反射板 ,其中,上述孔系设于上述无机材料组成的板状体 的中心部。 11.如申请专利范围第1项之半导体热处理用反射板 ,其中,形成于上述无机材料组成的板状体上的沟 的长度总和,为该板状体的外周长的1~10倍。 12.如申请专利范围第8项之半导体热处理用反射板 ,其中,形成于上述无机材料组成的板状体上的沟 的长度总和,为该板状体的外周长的1~10倍。 13.如申请专利范围第9项之半导体热处理用反射板 ,其中,形成于上述无机材料组成的板状体上的沟 的长度总和,为该板状体的外周长的1~10倍。 14.一种半导体热处理用反射板之制造方法,系在如 申请专利范围第1至4项中任一项之半导体热处理 用反射板之制造方法中,其特征为: 在光透过性材料组成的第1板状体,形成收容着一 面形成沟的无机材料组成的板状体的凹部,同时形 成贯穿于其底面的通气孔; 以形成上述沟的面与上述凹部底面相接的方式,于 凹部内收容着无机材料组成的板状体,由光透过性 材料组成的第2板状体覆被该凹部; 以1200℃以上的高温域,边透过通气孔排放上述凹 部内部的环境气体,边熔接处理第1板状体及第2板 状体;及 熔接处理后封闭上述通气孔。 15.一种半导体热处理用反射板之制造方法,其特征 为: 在光透过性材料组成的第1板状体,形成收容着一 面形成沟的无机材料组成的板状体的凹部,同时形 成贯穿于其底面形成的通气孔; 以形成上述沟的面与上述凹部底面相接的方式,于 凹部内收容着无机材料组成的板状体,由光透过性 材料组成的第2板状体覆被该凹部; 以1200℃以上的高温域,边透过通气孔排放上述凹 部内部的环境气体,边熔接处理第1板状体及第2板 状体;及 熔接处理后封闭上述抽气孔。 16.一种半导体热处理用反射板,系在圆板状或是环 状的光透过性材料组成的板状体内,密封配置着无 机材料组成的板状体者,其特征为: 与上述光透过性材料组成的板状体相接的无机材 料组成的板状体的至少一面的表面粗糙度为Ra0.1~ 10.0m,且于与上述无机材料组成的板状体相接的 上述光透过性材料组成的板状体的至少一面形成 沟。 17.如申请专利范围第16项之半导体热处理用反射 板,其中,上述光透过性材料组成的板状体及上述 无机材料组成的板状体均为环状; 而于光透过性材料组成的板状体的内周端及外周 端存在着熔接面,且形成于该板状体的沟,为直线 状且为从内周端的熔接面连续于外周端的熔接面 的沟。 18.如申请专利范围第16项之半导体热处理用反射 板,其中,上述光透过性材料组成的板状体及上述 无机材料组成的板状体均为圆板状; 于光透过性材料组成的板状体的外周端存在着熔 接面,且形成于该板状体的沟,为直线状且为从一 外周端的熔接面连续于与该外周端对向的另一外 周端的的熔接面的沟。 图式简单说明: 图1为显示半导体热处理用反射板之实施形态的俯 视图。 图2为沿着图1中之I-I线所作的图。 图3为显示图1所示无机材料组成的板状体的沟形 成面的俯视图。 图4为说明半导体热处理用反射板之制造方法用的 剖面图。 图5A、图5B为显示无机材料组成的板状体形成的沟 的变化例的俯视图,图5A为显示仅设置同心圆状的 沟的情况,图5B为显示仅设置为直线状,且为从内周 端连续于外周端的沟2c的情况的俯视图。 图6为显示形成于无机材料组成的板状体的贯穿孔 的变化例的俯视图。 图7为显示无机材料组成的板状体的变化例的俯视 图。 图8为显示习知半导体热处理用反射板的剖面图。 图9为说明习知半导体热处理用反射板之制造方法 用的剖面图。
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