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先制造沟渠之双重金属镶嵌制程
摘要
一种先制造沟渠之双重金属镶嵌制程。此制程包含下列步骤。首先,提供一基材,此基材上具有复数个半导体元件。接着形成一第一金属层、第一蚀刻终止层、介电层、第二蚀刻终止层于其上。然后,形成一沟渠于介电层之一预定深度。接着填入一牺牲层至此沟渠中,再将此牺牲层平坦化后,形成光阻层于其上,以进行一介层窗之蚀刻。然后将牺牲层与光阻层去除,并将第一蚀刻终止层蚀穿后,填入第二金属层。
申请公布号
TW200608517
申请公布日期
2006.03.01
申请号
TW093135292
申请日期
2004.11.17
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
杨青天;周竣坚;李豫华;赖嘉宏
分类号
H01L21/768
主分类号
H01L21/768
代理机构
代理人
蔡坤财
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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