发明名称 Scanning probe microscopy with inherent disturbance suppression
摘要 A method for inherently suppressing out-of-plane disturbances in scanning probe microscopy that facilitates higher resolution imaging, particularly in noisy environments.
申请公布号 US2006033024(A1) 申请公布日期 2006.02.16
申请号 US20050153300 申请日期 2005.06.15
申请人 SPARKS ANDREW W;MANALIS SCOTT R 发明人 SPARKS ANDREW W.;MANALIS SCOTT R.
分类号 G01N23/00 主分类号 G01N23/00
代理机构 代理人
主权项
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