发明名称 Vertical contactor of test socket for semiconductor device, having dual elasticity structure
摘要
申请公布号 KR200408975(Y1) 申请公布日期 2006.02.15
申请号 KR20050033694U 申请日期 2005.11.29
申请人 发明人
分类号 G01R1/067;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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