发明名称 Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop
摘要 Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop durch eine Relativbewegung zwischen Beleuchtungslicht und Probe über erste Scanmittel entlang mindestens einer Scanachse im Wesentlichen senkrecht zur Beleuchtungsachse, DOLLAR A wobei in einem Winkel zur Ebene der Relativbewegung, vorzugsweise senkrecht dazu, zweite Scanmittel bewegt werden und eine Bildaufnahme erfolgt, indem die Bewegung der ersten und zweiten Scanmittel gekoppelt wird und eine dreidimensionale Abtastbewegung durch die Beleuchtung in der Probe erfolgt, DOLLAR A wobei die zweiten Scanmittel gekoppelt mit der Bewegung der ersten Scanmittel derart bewegt werden, dass gerade und/oder gekrümmte Linien und/oder ebene und/oder gekrümmte Flächen gescannt werden, welche entlang mindestens einer Scanrichtung der ersten Scanmittel als auch entlang der Scanrichtung der zweiten Scanmittel ausgedehnt sind.
申请公布号 DE102004034954(A1) 申请公布日期 2006.02.02
申请号 DE200410034954 申请日期 2004.07.16
申请人 CARL ZEISS JENA GMBH 发明人 WILHELM, STEFAN;ZIMMERMANN, BERNHARD;ENGELMANN, RALF;STEINERT, JOERG;FUNK, JOERG-MICHAEL;ENGEL, JOERG;MEISEL, ULRICH
分类号 G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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