量测平面显示器与晶片之间接触阻抗的方法及其结构

摘要

本发明是关于一种量测平面显示器与晶片之间接触阻抗的方法及其结构。该量测平面显示器与晶片之间接触阻抗的结构，其包括晶片与平面显示器，其中晶片上具有第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块，且第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块之间彼此电性连接。另外，平面显示器上具有第一拟接点、第二拟接点与第三拟接点以及第一测试垫、第二测试垫、第三测试垫与第四测试垫，且第一拟接点与第一测试垫电性连接，第二拟接点与第二测试垫与第三测试垫电性连接，第三拟接点与第四测试垫电性连接，此外，晶片上的第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块是分别与平面显示器上的第一拟接点、第二拟接点与第三拟接点接合。本发明可以提高质量管理分析的效率。

主权项

1、一种量测平面显示器与晶片之间接触阻抗的方法，其特征在于其包括以下步骤：在一晶片上定义出一第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块，且该第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块之间是彼此电性连接；在一平面显示器上定义出一第一拟接点、第二拟接点与第三拟接点并且定义出一第一测试垫、第二测试垫、第三测试垫与第四测试垫，其中该第一拟接点是与该第一测试垫电性连接，该第二拟接点是与该第二测试垫以及该第三测试垫电性连接，该第三拟接点是与该第四测试垫电性连接；进行一接合步骤，以使该晶片上的该第一拟凸块、第二拟凸块与第三拟凸块分别与该平面显示器上的该第一拟接点、第二拟接点与第三拟接点接合在一起；以及在该第一测试垫与第四测试垫其中之一以及该第二测试垫与第三测试垫其中之一之间通入电流，并在另外二测试垫之间量测电压，进而取得一接触阻抗值。