发明名称 |
共光路双频外差共焦显微测量装置 |
摘要 |
共光路双频外差共焦显微测量装置,属于表面形貌测量技术领域。为了在提高分辨率和量程的同时保证系统有高的稳定性,本发明公开了一种共光路双频外差共焦显微测量装置,包括横向塞曼双频激光器,依次设置在激光器发射端轴线上的分光镜、第一会聚透镜、第一针孔、第一胶合透镜、第一半透半反镜、双折射透镜组和显微物镜,以及设置在分光镜反射光路上的第一光电探测器;还包括设置在第一半透半反镜的反射光路上的第二半透半反镜,以及分别设置在第二半透半反镜反射光路上的格兰棱镜、第二胶合透镜、第二针孔、第二光电探测器,和设置在透射光路上的光阑、第二会聚透镜、第三光电探测器。本发明具有低漂移和抗振动干扰能力强的特点,且成本较低。 |
申请公布号 |
CN1238688C |
申请公布日期 |
2006.01.25 |
申请号 |
CN200410003475.2 |
申请日期 |
2004.03.30 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
孟永钢;柳忠尧;闫聚群;张蕊;林德教;殷纯永 |
分类号 |
G01B9/04(2006.01);G01B11/24(2006.01) |
主分类号 |
G01B9/04(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.共光路双频外差共焦显微测量装置,其特征在于:该装置包括横向塞曼双频激光器,依次设置在所述激光器发射端轴线上的分光镜(2)、第一会聚透镜(4)、第一针孔(5)、第一胶合透镜(6)、第一半透半反镜(7)、双折射透镜组(8)和显微物镜(9),以及设置在所述分光镜(2)反射光路上的第一光电探测器(3);本装置还包括设置在第一半透半反镜(7)的反射光路上的第二半透半反镜(11),以及分别设置在所述第二半透半反镜(11)反射光路上的格兰棱镜(16)、第二胶合透镜(17)、第二针孔(18)、第二光电探测器(19),和设置在第二半透半反镜(11)透射光路上的光阑(12)、第二会聚透镜(13)、第三光电探测器(15)。 |
地址 |
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