| 发明名称 | 使用预分配冗余(PAR)体系结构的存储器阵列的自修复 | ||
| 摘要 | 使用预分配冗余(PAR)体系结构自修复非易失性存储器的方法及装置。在代表性实施方案中，非易失性存储器包括块、存储子块、具有与存储子块的容量相等容量的冗余子块、连接到块的比较器(265)、连接到块的故障锁存电路(270)，以及连接到块的熔丝(260)。比较器(265)被配置以通过比较期望数据与读出数据识别特定存储子块中的故障。故障锁存电路(270)被配置以确定特定存储子块的地址。熔丝并配置以使特定存储子块用冗余子块替换从而修复非易失性存储器。 | ||
| 申请公布号 | CN1717749A | 申请公布日期 | 2006.01.04 |
| 申请号 | CN03825688.6 | 申请日期 | 2003.09.30 |
| 申请人 | 飞思卡尔半导体公司 | 发明人 | 内森·I·默恩;理查德·K·埃谷奇;林松巍 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 康建峰 |
| 主权项 | 1.一种非易失性存储器，包括：块；块中的存储子块；具有与存储子块的容量相等容量的冗余子块；连接到块的、被配置以通过比较期望数据与读出数据识别特定存储子块中的故障的比较器；连接到块的、被配置以确定该特定存储子块的地址的故障锁存电路；以及连接到块的、被配置以使该特定存储子块用冗余子块替换从而修复非易失性存储器的熔丝。 | ||
| 地址 | 美国得克萨斯 | ||