| 发明名称 | 用于内置错误诊断的半导体存储器件 | ||
| 摘要 | 提供了一种其中单片集成了存储器(2)和寄存器(5)的半导体器件的错误诊断方法。该错误诊断方法包括：对与一系列地址有关的存储器(2)进行第一检测，以识别第一错误地址；外部地输出第一错误地址；将第一错误地址存储到寄存器(5)中；对与一系列地址有关的存储器进行第二检测；使用第二检测结果和存储在寄存器(5)中的第一错误地址，识别不同于第一错误地址的第二错误地址；外部地输出第二错误地址；并且更新寄存器(5)，以存储第二错误地址。 | ||
| 申请公布号 | CN1700357A | 申请公布日期 | 2005.11.23 |
| 申请号 | CN200510072825.5 | 申请日期 | 2005.05.20 |
| 申请人 | 恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 山内尚 |
| 分类号 | G11C29/00;G06F11/22;G01R31/28 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;陆锦华 |
| 主权项 | 1.一种用于半导体器件的错误诊断方法，其中在半导体芯片中单片集成了存储器和寄存器，所述错误诊断方法包括：对与一系列地址有关的所述存储器进行第一检测，以识别第一错误地址；外部地输出所述第一错误地址；将所述第一错误地址存储到所述寄存器；对与一系列地址有关的所述存储器进行第二检测；使用所述第二检测结果和存储在所述寄存器中的所述第一错误地址，识别不同于所述第一错误地址的第二错误地址；外部地输出所述第二错误地址；以及更新所述寄存器，以存储所述第二错误地址。 | ||
| 地址 | 日本神奈川 | ||