| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE FOR S11 PARAMETER MEASUREMENT, TEST BOARD FOR S11 PARAMETER MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR MEASURING S11 PARAMETER OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050108759(A) |
申请公布日期 |
2005.11.17 |
| 申请号 |
KR20040033808 |
申请日期 |
2004.05.13 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
SUN, WOO JUNG;LEE, JUNG BAE |
| 分类号 |
G01R31/02;G01R31/317;G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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