摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln eines eine Abnutzung von Schaltkontakten (7a, 7b) eines Leistungsschalters (3) angebenden Restschaltspiel-Wertes (S¶R¶). Um vergleichsweise zuverlässig eine Aussage über die Abnutzung der Schaltkontakte (7a, 7b) des Leistungsschalters (3) zu generieren, ist erfindungsgemäß vorgeschlagen, folgende Schritte durchzuführen: Beim Öffnen der Schaltkontakte (7a, 7b) des Leistungsschalters (3) wird ein einen momentan fließenden Strom angebender Ausschaltstrom-Messwert (I¶a¶) ermittelt; für diesen wird anhand einer schalterspezifischen Kennlinie ein ausschaltstromabhängiger Schaltspiel-Wert (n/¶Ia¶) ermittelt; der Quotient aus einem anhand der schalterspezifischen Kennlinie festgelegten Schaltspiel-Bezugswert (n¶max¶) und dem ausschaltstromabhängigen Schaltspiel-Wert (n/¶Ia¶) wird unter Bildung einer Schaltspiel-Kenngröße (K¶n¶) ermittelt und für das erstmalige Öffnen der Schaltkontakte (7a, 7b) des Leistungsschalters (3) wird eine Differenz zwischen dem Schaltspiel-Bezugswert (n¶max¶) und der Schaltspiel-Kenngröße (K¶n¶) unter Bildung eines Restschaltspiel-Wertes (S¶R¶) ermittelt und für jedes weitere Öffnen der Schaltkontakte (7a, 7b) des Leistungsschalters (3) wird jeweils die Differenz zwischen einem für einen unmittelbar vorhergehenden Öffnungsvorgang der Schaltkontakte (7a, 7b) ermittelten Restschaltspiel-Wert und der Schaltspiel-Kenngröße (K¶n¶) unter Bildung eines jeweiligen aktuellen Restschaltspiel-Wertes (S¶R¶) ermittelt.
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